Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung: Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln
| Autor | (Taschenbuch) |
| Número de artículo | 4038090942 |
| DE,FR,ES,IT,CH,BE | |
| Terminal correspondant | Android, iPhone, iPad, PC |
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Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln VDE VERLAG GMBH • Berlin • Offenbach . Inhaltsverzeichnis Vorwort 5 Widmung 7 Danksagung 7 1 Motivation 15 2 Die Fehlermatrix 21 2.1 Fehlerarten 21 2.2 Bauteilfehler 23 2.2.1 Defektes Bauteil (Gehäuse) 24 2.2.2 Verbogener Bauteilanschluss/Lifted Lead 24 2.2.3 Fehlender Bauteilanschluss 25 2.2 ...
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Neben dem Skript und der Vorlesung wird folgende weiterführende Literatur empfohlen: Bauckholt, H.-J.: Grundlagen und Bauelemente der Elektrotechnik, Carl Hanser, München, 2013 ; Bergler, M.: Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung: Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln, VDE Verlag, Berlin 2012
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Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung: Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln: 2011: 978-3-8007-3234-0: Klaus Dembowski: Energy Harvesting für die Mikroelektronik: Energieeffiziente und -autarke Lösungen für drahtlose Sensorsysteme: 2010: 978-3-8007-3235-7: Rahman Jamal · Ronald Heinze: Virtuelle Instrumente in der Praxis 2010: Begleitband zum 15. VIP-Kongress '' 978-3 ...
B. Kainka: Mikrocontroller programmieren; T. Schabbach, V. Wesselak: Energie, Die Zukunft wird erneuerbar; H. Späth: Leistungsbegriffe für Ein- und Mehrphasensysteme nach DIN 40110-1 und DIN 40110-2; M. Berger: Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung, Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln; J. Ertelt: Grundwissen CE-Kennzeichnung; M. Bossert: Einführung in die ...
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Humorvoll und schlagkräftig trotzt Margarete Stokowski den letzten Zuckungen des Patriarchats. Ein pointierter Rückblick auf die vergangenen Jahre. Anja Kümmel, Published On: 2018 09 01 Über den Autor und weitere Mitwirkende. Margarete Stokowski, geboren 1986 in Polen, lebt seit 1988 in Berlin. Sie studierte Philosophie und